Ding H., Li G., Yan L., Liu Z., Lu L., Yang G., Zhang Q., Zhao J., Qiu X., Gu G., Yang F., Qian T., Zhong Y., Tang C., Shen J., Gan Y., Phan G.N., Sui Q.
Ключевые слова: Bi2212, single crystals, doping, annealing process, phase diagram, X-ray diffraction, microstructure, resistance, Hall effect, fabrication, experimental results
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, RCE-CDR process, critical caracteristics, current-voltage characteristics, uniformity, critical current, temperature dependence, angular dependence, trapped field distribution, magnetization, mechanical properties, stress effects, experimental results, presentation
Ключевые слова: HTS, coated conductors, REBCO, planarization, IBAD process, RCE-CDR process, fabrication, high rate process, long conductors, uniformity, critical caracteristics, critical current, critical current density, angular dependence, magnetic field dependence, review, fabrication, presentation
Rupich M.W., Thieme C., Li X., Paranthaman M.P., Sathyamurthy S., Kim K., List F.A., Zhang Y., Qiu X.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, RABITS process, buffer layers, MOD process, substrate Ni-W, texture, critical caracteristics, Jc/B curves, fabrication
Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Thompson J.R., Kim K., Selvamanickam V., Polat O., Qiu X., Lupini A.R., Meyer H.M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.